芯片冷熱沖擊測試箱是一種模擬自然界溫度急劇變化的試驗設備,能模擬高溫與低溫之間的瞬間變化環(huán)境,從而判斷產(chǎn)品的可靠性及穩定性能等參數是否合格,將提供給您預測和改進(jìn)產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性依據。通過(guò)它能測試產(chǎn)品在溫度快速變化的過(guò)程中所受到的物理和化學(xué)方面的損害,從而發(fā)現產(chǎn)品潛在的質(zhì)量問(wèn)題,進(jìn)而對其改進(jìn)優(yōu)化。設備用途:該測試箱主要是用于電子電器零組件...